Els motius de la desviació de gran capacitat de condensadors paral·lels de baixa tensió

El problema de desviació de la capacitat que es produeix en el funcionament real de condensadors paral·lels de baixa tensió afecta directament la precisió i l'estabilitat del sistema de compensació de potència reactiva. Aquesta desviació pot derivar de defectes inherents en el procés de fabricació o estar influenciada pels efectes dinàmics de l’entorn operatiu. Quines són les causes comunes de desviacions de gran capacitat en condensadors paral·lels de baixa tensió?

Ⅰ. Defectes en el procés de producció

Gruix mitjà: desnivell en el procés d’estirament de la pel·lícula comporta fluctuacions de gruix.
Defecte de bobinatge: desalineació de la placa o control de tensió indegut
Tractament al buit: el nivell de buit insuficient durant el procés d’impregnació condueix a bombolles residuals.
Qualitat de soldadura: resistència anormal de contacte al punt de connexió del plom de l'elèctrode.

II. Canvis en les propietats del material

Envelliment mitjà: les cadenes moleculars de polímer es descomponen després de l'ús a llarg termini.
Migració metàl·lica: el procés de pèrdua d’oxidació dels elèctrodes metal·litzats
Deteriorament del petroli: les propietats químiques de l’agent impregnador es deterioren gradualment.
Penetració de l’aigua: l’absorció d’humitat del medi introduïda a causa de la fallada del segell

Iii. Impacte de l’entorn operatiu

Estrès de temperatura: Alta temperatura accelera la degradació de les propietats del material al medi.
Sobrecàrrega harmònica: corrent d’alta freqüència provoca pèrdues dielèctriques addicionals
Fluctuació de tensió: envelliment electroquímic causat per un funcionament de sobretensió a llarg termini
Vibració mecànica: Estructura interna Lositing causada per vibracions contínues

Iv. Diferències en els mètodes de mesurament

Error de l'instrument: desviació d'equips de prova de diferents graus de precisió
Influència de freqüència: Mesura de la diferència entre la freqüència d’alimentació i la freqüència industrial
Condicions de temperatura: les proves no es van corregir segons la temperatura especificada.
Mètode de connexió: error introduït per resistència al contacte al circuit de prova

V. Efectes d’interacció del sistema

Resonància paral·lela: efecte de ressonància format amb la inductància del sistema
Efecte adjacent: interacció tèrmica causada per una instal·lació densa
Interferència harmònica: distorsió dels resultats de la mesura causada pels harmònics de fons
Circuit de posada a terra: pèrdues addicionals causades per la posada a terra anormal